薄膜测厚仪的相关知识及测试原理标准介绍

薄膜测厚仪的相关知识及测试原理标准介绍

　　薄膜测厚仪，顾名思义为用于塑料薄膜材料的厚度检测的专业测量仪器。其名称为“薄膜测厚仪”，行业中又被称为薄膜厚度测量仪、薄膜厚度仪、薄膜厚度测试仪等等。一般来说，仪器能够测量的材料包括：塑料薄膜、薄片、塑料片材、铝箔、铜箔、电池隔膜、纸张、纸板等材料的厚度。

　　从薄膜厚度测量方式不同的角度来划分，薄膜测厚仪可分为接触式和非接触式两种，即测量薄膜厚度时仪器是否接触到测试样品本身。

　　Labthink兰光（济南兰光机电技术有限公司）始创于1989年，是一家专业从事软包装检测仪器的研发、生产与销售于一体的技术型企业，为数万家客户提供专业全面的产品品质控制解决方案！公司自主研发生产的“C640薄膜测厚仪”，是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。该仪器严格按照相关标准要求设计制造，采用机械接触式测试原理，非常适合薄膜材料进行厚度的高精度测量，是企业进行产品厚度技术指标质量控制的*仪器。

　　C640薄膜测厚仪是在Labthink不断的创新研发和技术积累中推陈出新的一款新型测厚仪，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现*测试稳定性、重复性及精度。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。

　　仪器的测试原理为：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

　　如需了解设备的详细技术参数和报价情况，可直接致电济南兰光咨询或网站留言！Labthink兰光，致力于通过包装检测技术提升和检测仪器研发帮助客户应对包装难题，助力包装相关产业的品质安全。