了解薄膜测厚仪的机械接触式工作原理和具体使用方法

　　本信息由济南兰光机电技术有限公司发布提供。

　　薄膜测厚仪（如Labthink C640测厚仪）是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。

【薄膜测厚仪的机械接触式工作原理】

　　薄膜测厚仪的机械接触式工作原理主要是通过物理接触的方式实现对薄膜材料厚度的测量。其核心在于利用一个高精度探针（或感应头、触点系统），在受控力的作用下轻轻接触待测薄膜表面，并穿透至基材或另一层薄膜表面。通过监测探针（或感应头）位移的变化，结合探针（或感应头）的几何形状和材料属性，以及电路的开关时间和对应的电压信号，可以计算出薄膜的厚度。

　　Labthink C640机械接触式薄膜测厚仪，选用超高精度的位移传感器，通过位移传感器来测试薄膜材料的厚度。当测量头以一定的压力落在试样上时，与测量头一体的传感器会自动检测出上下测量面之间的距离，该距离即为薄型试样的厚度。

【薄膜测厚仪的具体使用方法】

选择合适的测量头：根据待测薄膜材料的性质选择适合的探针和测量参数。

检查仪器状态：确保仪器各部件完好无损，机械装置运行正常。

清洁表面：去除待测薄膜表面可能影响测量结果的杂质或污垢。

校准仪器：使用标准样品对仪器进行校准，以保证测量结果的准确性。

放置薄膜：将待测薄膜平整地放置在测量台上，确保与测量头准确对齐。

启动测量：操作人员启动仪器，使探针（或测量头）在精确控制的力作用下接触薄膜表面。此时，仪器的测量头落在设备砧板上，传感器读取测量头的初始位移值。测量头抬起后，再将试样放置在砧板纸上，测量头再次落下，传感器读取新的位移值。两次位移值之差即为试样的厚度值。

读取结果：测量完成后，测厚仪的显示屏上会显示出测量的厚度值。记录测量结果，包括测量点的位置、日期和时间，以及任何可能影响测量精度的因素。

数据分析：对测量结果进行数字化处理，分析薄膜的均匀性和一致性。

　　综上所述，薄膜测厚仪的机械接触式工作原理简单明了，操作方法也相对便捷。通过正确使用薄膜测厚仪，可以实现对薄膜材料厚度的精确测量，为生产过程中的质量控制提供有力支持。在薄膜测厚仪的日常操作和使用过程中，如遇到任何仪器问题，均可直接联系厂家售后技术人员，获取及时、专业的技术支持。