Labthink兰光 CHY-C2A薄膜厚度测量仪 产品技术资料

CHY-C2A薄膜厚度测量仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。符合GB/T 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3-2002(纸和纸板厚度的测定)、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。

执行标准：

ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

基础应用：

薄膜、薄片、隔膜、纸张、纸板、箔片、硅片、金属片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料如尿不湿、卫生巾片材等

扩展应用：

量程扩展至5mm，10mm（需特殊附件或改制） ，适用于测试薄膜、片材的厚度

曲面测量头，满足特殊场合的厚度测试