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高精度CHY-C2A薄膜测厚仪(GB/T 6672)

简要描述:高精度CHY-C2A薄膜测厚仪(GB/T 6672)适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-08
  • 访  问  量:8435

详细介绍

PARAM博每 CHY-C2A薄膜测厚仪

高精度CHY-C2A薄膜测厚仪(GB/T 6672)

薄膜测厚仪产品名称:测厚仪,薄膜测厚仪,纸张测厚仪,机械接触式薄膜测厚仪
薄膜测厚仪价格:*,咨询!
薄膜测厚仪产品用途:适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
薄膜测厚仪产品特点:
1. 接触式测量
2. 测头自动升降
3. 手动、自动双重测量模式
4. 数据实时显示、自动统计、打印
5. 显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
6. 标准接触面积、测量压力(非标可选)
7. 标准量块标定
薄膜测厚仪技术参数:
1. 测量范围:0~2mm(常规)
                   0~6mm;12mm(可选)
2. 分 辨 率:0.1μm
3. 测量速度:10次/min(可调)
4. 测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)
5. 接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)
           注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
薄膜测厚仪标准配置:主机、微型打印机、标准量块一件
薄膜测厚仪依据标准:GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777
薄膜测厚仪关键字:测厚仪,薄膜测厚仪,纸张测厚仪,机械接触式薄膜测厚仪
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