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高分子塑料薄膜测厚仪

简要描述:高分子塑料薄膜测厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机,更加准确、高效的进行连续多点测量。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-07-27
  • 访  问  量:4174

详细介绍

品牌Labthink/兰光价格区间面议
产地类别国产应用领域医疗卫生,食品/农产品,化工,制药/生物制药
  高分子塑料薄膜测厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机,更加准确、高效的进行连续多点测量。
 
  设备技术特征:
  1、Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新,使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术,实现*测试稳定性、重复性及精度。
  2、采用高效率、自动化结构设计,有效简化人员参与过程;智能的控制及数据处理功能,为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。
  3、搭载Labthink新一代版控制分析软件,具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储;支持Labthink*的DataShieldTM数据盾系统(可选配置),为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。
  高分子塑料薄膜测厚仪测试原理:
  将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。
  执行标准:
  ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
  中国《药品生产质量管理规范》(GMP)对软件的有关要求(可选配置)
  高分子薄膜厚度测试仪应用材料:
  基础应用:
  薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定
  纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定
  扩展应用:
  金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定
  瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定
  纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定
  非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、口罩等的厚度测定
  其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定
 
  技术指标:
  ① C640M型号参数:
  测试范围(标配):0~2mm
  分辨率:0.1μm
  重复性:0.8μm
  测量范围(选配):0~6、0~12mm
  测量间距:0~1000mm(可设定)
  进样速度:1.5~80mm/s(可设定)
  附加功能:
  自动进样机:可选配置
  DataShieldTM数据盾:可选配置
  GMP计算机系统要求:可选配置
  测量方式:机械接触式
  测量压力及接触面积:
  薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2
  纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2
  电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
  外形尺寸:370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)
  净重:26kg
  ② C640H型号参数:
  测试范围(标配):0~2mm
  分辨率:0.1μm
  重复性:0.4μm
  测量范围(选配):0~6、0~12mm
  测量间距:0~1000mm(可设定)
  进样速度:1.5~80mm/s(可设定)
  附加功能:
  自动进样机:可选配置
  DataShieldTM数据盾:可选配置
  GMP计算机系统要求:可选配置
  测量方式:机械接触式
  测量压力及接触面积:
  薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2
  纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2
  电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
  外形尺寸:370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)
  净重:26kg

  塑料薄膜测厚仪是一种用于精确测量塑料薄膜厚度的仪器,广泛应用于材料检测、质量控制和科学研究等领域。以下是塑料薄膜测厚仪的操作步骤,帮助用户快速掌握其使用方法。
  一、设备准备
  检查仪器状态:确保测厚仪外观完好,各部件无损坏,显示屏清晰可见。
  校准仪器:使用标准样品对测厚仪进行校准,确保测量结果的准确性。
  清洁仪器:清洁测量头和下砧铁,确保无油污、灰尘等杂质。
  二、样品准备
  裁剪试样:从塑料薄膜卷中裁取宽100mm、无褶皱和其他缺陷的试样。
  状态调节:将试样在(23±2)℃的环境中调节至少1小时,湿敏薄膜需按材料规范或供需双方协商确定调节时间和环境。
  三、测量操作
  放置试样:将试样平整地放置在测厚仪的测试台上,确保与测量头对齐。
  检查零点:测量前检查测厚仪的零点,测量后重新检查零点。
  开始测量:平缓放下测头,避免试样变形,仪器会自动显示测量结果。
  多点测量:按等分试样长度的方法确定测量位置点,通常每8mm测量一次。
  四、数据记录与分析
  记录数据:测量完成后,记录测量结果,包括测量点的位置、日期和时间。
  分析数据:对测量结果进行分析,判断薄膜厚度的均匀性和一致性。
  五、维护与保养
  清洁仪器:使用完毕后,及时关闭电源,用清洁布擦拭仪器表面。
  定期校验:定期对仪器进行校验,确保测量精度。
  存储环境:避免在潮湿、高温、强磁场等环境下使用和存放仪器。
  通过以上步骤,用户可以高效、准确地使用塑料薄膜测厚仪完成测量任务,确保测量结果的可靠性和准确性。
 
 

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